| Adsorption isotherm |
|
吸着等温線 |
| Analytical Electron Microscope |
AEM |
分析電子顕微鏡 |
| Ar Ion Etching |
AIE |
Arイオンエッチング |
| Atmospheric Pressure ChemicalIonization |
APCI |
大気圧化学イオン化 |
| Atomic Absorption Spectrometry |
AAS |
原子吸光分析法 |
| Atomic Force Microscope |
AFM |
原子間力顕微鏡 |
| Atomic Force Microscope - Infrared Spectrometry / Nano - Infrared Spectrometry |
AFM-IR/nanoIR |
AFM-IR / ナノIR |
| Attenuated Total Reflection |
ATR |
全反射減衰分光法 |
| Auger Electron Spectroscopy |
AES |
オージェ電子分光 |
| Backside SIMS |
|
バックサイドSIMS |
| Backside XPS |
AES |
バックサイドXPS |
| BET(Brunauer,Emmet and Teller) |
BET |
比表面積測定（BET法） |
| Capillary Electrophoresis |
CE |
キャピラリー電気泳動分析 |
| Cathodoluminescence |
CL |
カソードルミネッセンス |
| Chemical Ionization |
CI |
化学イオン化 |
| Composition Analysis |
CA |
有機組成分析 |
| Computed Tomography |
CT |
コンピューター断層撮影 |
| Confocal Laser Scanning Microscope |
CLSM |
共焦点レーザー顕微鏡 |
| Confocal laser scanning microscopy |
LSM |
共焦点レーザー走査型顕微鏡 |
| Crosssection Polisher / Broad Ion Beam |
CP / BIB |
クロスセクションポリッシャー / ブロードイオンビーム法 |
| Density measurement |
|
密度測定 |
| Differential Scanning Calorimetry |
DSC |
示差走査熱量測定 |
| Diffuse Reflectence Infrared Fourier Transform |
DRIFT |
拡散反射フーリエ変換赤外分光 |
| Diffusion Ordered Spectroscopy |
DOSY |
二次元核磁気共鳴(DOSY) |
| Distortion-less Enhancementby Polarization Transfer |
DEPT |
深い順位の過度吸収測定法 |
| Double Quantum Filter Correlation Spectroscopy |
DQF-COSY |
二次元核磁気共鳴(DQF-COSY) |
| Dynamic viscoelastic measurement |
|
動的粘弾性法 |
| Electric Force Microscope |
EFM |
電気力顕微鏡 |
| Electron Back Scatter Diffractionpatterns |
EBSD |
結晶方位解析 |
| Electron Beam Induced Current |
EBIC |
電子線誘起電流 |
| Electron Energy Loss Spectroscopy |
EELS |
電子エネルギー損失分光 |
| Electron Ionization |
EI |
電子イオン化 |
| Electron Probe Micro Analysis |
EPMA |
電子線マイクロアナリシス |
| Electron Spin Resonance |
ESR |
電子スピン共鳴分析 |
| Electrospray Ionization |
ESI |
エレクトロスプレーイオン化 |
| Electrothermal Vaporization-lnductively Coupled Plasma-Mass Spectrometry |
ETV-ICP-MS |
加熱気化導入ICP質量分析法 |
| Elemental Analysis |
EA |
有機元素分析 |
| Energy Dispersive X-ray Fluorescence |
EDX |
エネルギー分散蛍光X線分析 |
| Environmental analysis |
|
環境分析 |
| Evolved Gas Analysis |
EGA |
発生ガス分析 |
| Extended X-ray Absorption Fine Structure |
EXAFS |
拡張X線吸収端微細構造解析 |
| Fast Atom Bombardment Mass Spectrometry |
FABMS |
高速原子衝撃質量分析法 |
| Field Desorption Mass Spectrometry |
FDMS |
電界脱離質量分析法 |
| Field Emission-Scaming Electron Microscope |
FE-SEM |
電界放射型走査電子顕微鏡 |
| Fluoroscopy |
|
X線透視 |
| Focused Ion Beam |
FIB |
集束イオンビーム加工 |
| Focused Ion Beam - Scanning Electron Microscopy |
FIB-TEM |
集束イオンビーム加工透過電子顕微鏡 |
| Focused Ion Beam - Transmission Electron Microscopy |
FIB-SEM |
集束イオンビーム加工走査電子顕微鏡 |
| Fourier Transform Infrared Spectroscopy |
FT-IR |
フーリエ変換赤外分光 |
| Gas Chromatogfaphy - Flame Ionization Detector |
GC-FID |
ガスクロマトグラフィー水素イオン化検出器 |
| Gas Chromatography |
GC |
ガスクロマトグラフィー |
| Gas Chromatography - Flame Photometric Detector |
GC-FPD |
ガスクロマトグラフィー炎光光度検出器 |
| Gas Chromatography - Thermal Conductivity Detector |
GC-TCD |
ガスクロマトグラフィー熱伝導度検出器 |
| Gas Chromatography / Mass Spectrometry |
GC/MS |
ガスクロマトグラフィー質量分析法 |
| Gas permeability |
|
ガス透過性 |
| Gel Permeation Chromatography |
GPC |
ゲル浸透クロマトグラフィー |
| Gel Permeation Chromatography - Dynamic Light Scattering |
GPC-DLS |
ゲル浸透クロマトグラフィー動的光散乱検出器 |
| Gel Permeation Chromatography - Laser Light Scattering |
GPC-LS |
ゲル浸透クロマトグラフィー光散乱検出法 |
| Gel Permeation Chromatography - Multi Angle Laser Light Scattering |
GPC-MALS |
ゲル浸透クロマトグラフィー多角度光散乱検出器 |
| Gel Permeation Chromatography - Viscometry |
GPC-VISCO |
ゲル浸透クロマトグラフィー粘度検出法 |
| Glow Discharge Mass Spectrometry |
GDMS |
グロー放電質量分析法 |
| Grazing Incidence X-ray Reflectivity |
GIXR |
X線反射率測定 |
| Heteronuclear Multiple Bond Coherence |
HMBC |
異核間多結合相関分光法 |
| Heteronuclear Multiple Quantum Coherence |
HMQC |
異核間多量子相関分光法 |
| High Angle Annular Dark Field |
HAADF |
高角度散乱暗視野法 |
| High Performance Liquid Chromatography |
HPLC |
高速液体クロマトグラフィー |
| High Resolution Analytial Electron Microscope |
HRAEM |
高分解能分析電子顕微鏡 |
| High Resolution Transmission Electron Microscope |
HRTEM |
高分解能透過電子顕微鏡 |
| High Resolution-Rutherford Backscattering Spectrometry |
HR-RBS |
高分解能ラザフォード後方散乱分析法 |
| Hydrogen Forward Scattering Spectrometry |
HFS |
水素前方散乱分析法 |
| Inductively Coupled Plasma - Mass Spectrometry |
IC-MS |
イオンクロマトグラフィー質量分析法 |
| Infrared Spectroscopy |
IR |
赤外分光 |
| Ion implantation |
|
イオン注入 |
| Kelvin probe Force Microscope |
KFM |
ケルビンプローブフォース顕微鏡 |
| Laser Ablation - lnductively Coupled Plasma - Mass Spectrometry |
LA-ICP-MS |
レーザーアブレーション誘導結合プラズマ質量分析法 |
| Liquid Chromatography / MassSpectrometry |
LC/MS |
液体クロマトグラフィー質量分析法 |
| Liquid Chromatography / NuclearMagnetic Resonance |
LC/NMR |
液体クロマトグラフィー核磁気共鳴法 |
| Liquid Chromatography / Tandem Mass Spectrometry |
LC/MS/MS |
液体クロマトグラフィータンデム質量分析法 |
| Inductively Coupled Plasma - Atomic Emission Spectrometry |
ICP-AES |
誘導結合プラズマ原子発光分光法 |
| Inductively Coupled Plasma - Mass Spectrometry |
ICP-MS |
誘導結合プラズマ質量分析法 |
| Ion Chromatography |
IC |
イオンクロマトグラフィー |
| Ion Milling |
IM |
イオンミリング加工 |
| Magnetic Force Microscope |
MFM |
磁気力顕微鏡 |
| Mass Spectrometry |
MS |
質量分析法 |
| Material test |
|
材料試験 |
| Matrix Assisted Laser Desorption / Ionization - Time of Flight Mass Spectrometry |
MALDI-TOFMS |
マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析法 |
| Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization-Mass Spectrometry |
MALDI-MS |
マトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析法 |
| Micro Focus X-ray Inspection System |
|
X線透視 |
| Micro Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR) |
micro FT-IR |
顕微フーリエ変換赤外分光(顕微FT-IR) |
| Micro Raman Spectroscopy |
micro Raman |
顕微ラマン |
| Mössbauer spectroscopy / Moessbauer Spectroscopy |
|
メスバウアー分光 |
| Nano Beam Diffraction |
NBD |
ナノビーム回折 |
| Nano Indentation |
|
ナノインデンテーション |
| nano-ThermalAnalysis、micro-ThermalAnalysis |
nano-TA、μ-TA |
微小域熱分析 |
| Nuclear Magnetic Resonance |
NMR |
核磁気共鳴 |
| Nuclear Reaction Analysis |
NRA |
核反応解析 |
| Optical Microscope |
OM |
光学顕微鏡 |
| Particle counter,Particle size,Particle size distribution |
|
粒子数・粒径・粒径分布 |
| ParticleInduced X-ray Emission |
PIXE |
粒子励起X線分光 |
| pH measurement |
pH |
pH測定 |
| Photoacoustic Spectroscopy |
PAS |
光音響分光 |
| Photoluminescence |
PL |
フォトルミネッセンス |
| Polymer Flow Scheme Tests |
|
化審法高分子フロースキーム試験 |
| Pore Size Distribution |
PSD |
細孔径分布 |
| Positron Annihilation Lifetime Spectroscopy |
PALS |
陽電子消滅法 |
| Raman Spectroscopy |
Raman |
ラマン分光 |
| Refelection Absorption Spectroscopy |
RAS |
反射吸収分光 |
| Reflection Electron Energy Loss Spectroscopy |
REELS |
反射電子エネルギー損失分光 |
| Refractive index measurement |
|
屈折率測定 |
| Riedveld Method |
Riedveld Method |
リートベルト法 |
| Rutherford Backscattering Spectrometry |
RBS |
ラザフォード後方散乱分光法 |
| Scanning Capacitance Microscope |
SCM |
走査型キャパシタンス顕微鏡 |
| Scanning Electron Microscope |
SEM |
走査電子顕微鏡 |
| Scanning Ion Microscope |
SIM |
走査イオン顕微鏡像 |
| Scanning Probe Microscope |
SPM |
走査型プローブ顕微鏡 |
| Scanning Spreading Resistance Microscope |
SSRM |
走査型拡がり抵抗顕微鏡 |
| Scanning Transmission Electron Microscope |
STEM |
走査型透過電子顕微鏡 |
| Secondary Ion Mass Spectrometry |
SIMS |
二次イオン質量分析法 |
| Specific surface measurement |
|
比表面積測定(COパルス法) |
| Spherical aberration corrected Scanning Transmission Electron Microscope |
Cs-corrected STEM |
球面収差補正走査透過型電子顕微鏡 |
| Spreading Resistance Analysis |
SRA |
拡がり抵抗測定 |
| Surface Potential Microscope |
SPoM |
表面電位顕微鏡 |
| surface tensiometry,interfacial tensiometry,contact angle measurement |
|
表面・界面張力・接触角 |
| Temperature Programmed Desorption - Mass Spectrometry |
TPD-MS |
昇温脱離-質量分析法 |
| Thermal Analysis |
TA |
熱分析 |
| Thermal conductivity (3-omega Method) |
|
熱伝導率(3ω法) |
| Thermal conductivity (Thermoreflectance Method) |
|
熱伝導率(サーモリフレクタンス法) |
| Thermal Desorption Spectroscopy |
TDS |
昇温脱離ガス分析 |
| Thermal diffusivity ・ Thermal conductivity |
|
熱拡散率・熱伝導率 |
| Thermo - mechanical Analysis |
TMA |
熱機械分析 |
| Thermogravimetry |
TG |
熱重量分析法 |
| Thermogravimetry - Differential Thermal Analysis |
TG-DTA |
熱重量示差熱分析 |
| Thermogravimetry - Mass Spectrometry |
TG-MS |
熱重量質量分析法 |
| Time of Flight - Secondary Ion Mass Spectrometry |
TOF-SIMS |
飛行時間型二次イオン質量分析法 |
| Total Organic Carbon |
TOC |
全有機炭素測定 |
| Total Reflection X-ray Fluorescence |
TXRF |
全反射蛍光X線分析 |
| Transmission Electron Microscope |
TEM |
透過電子顕微鏡 |
| Tunneling atomic force microscope |
TUNA |
トンネリングAFM(原子間力顕微鏡) |
| two-dimensional Fast Fourier Transform Analysis |
2-D FFT |
二次元高速フーリエ変換解析 |
| Ultraviolet-Visible Absorption Spectroscopy |
UV-VIS |
紫外可視分光 |
| Vapor pressure measurement |
|
蒸気圧測定 |
| Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence |
WDX |
波長分散蛍光X線分析 |
| Weak-Beam method |
Week-Beam |
ウィークビーム法 |
| X-ray Absorption Fine Structure |
XAFS |
X線吸収微細構造解析 |
| X-ray Absorption Near Edge Structure |
XANES |
X線吸収端構造解析 |
| X‐ray diffraction |
XRD |
X線回折 |
| X-ray Fluorescence |
XRF |
蛍光X線分析 |
| X-ray Photoelectron Spectroscopy |
XPS |
X線光電子分光法 |
| X-ray Reflectivity Analysis |
XRR |
X線反射率分析 |
| Zeta potential measurement |
|
ゼータ電位測定 |
