高度な技術で社会に貢献する

「先端分析」には、新たな「社会」を切り拓く力がある

「世界一流の研究開発支援企業」を目指して
SIMSによる半導体中の不純物分析で国内初のISO/IEC 17025:2017試験所認定を取得 ~高感度・高精度不純物分析によりグローバルレベルで半導体産業への技術支援を展開~
マイクロバブルと赤外吸収分光法を用いてナノプラスチックの化学的特性を分析する新手法の提案  ~環境中のナノプラスチック分析に期待~
パワー半導体デバイスの微量欠陥を直接評価するサービスの開始について ~電気的欠陥の高感度測定により次世代パワー半導体デバイスの性能向上に貢献~

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