最新技術／特集のご紹介

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  国内初！SIMS半導体分析でISO/IEC 17025認定

  ISO/IEC 17025認定により、SIMS分析の信頼性と国際的技術力を証明し、半導体産業の品質向上に貢献します。

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  2D-LC/MS

  2D-LC機能付き高分解能MSを導入。リン酸等の不揮発性塩を用いたLC条件でも質量解析が可能に。

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  ZenoTOF 7600

  CIDに加えEAD開裂方式を搭載し、定性能力が飛躍的に向上したZenoTOF 7600 （AB SCIEX）を導入。

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  反応追跡型NMR

  幅広い環境条件に対応可能な反応ユニットを有するNMRを導入

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  高速原子間力顕微鏡

  高速原子間力顕微鏡を受託分析会社として初めて導入。世界最高の画像取得速度でリアルタイム変化観察が可能です。

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  ガルバノ光学系搭載フェムト秒LA-ICP-MS

  ガルバノ光学系により固体試料のまま正確で高感度な元素定量分析（ppb～ppm）が可能に。

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  μRBS

  マイクロビームによりデバイスの測定、イメージング測定が可能。軽元素の感度、重元素の質量分解能も大幅向上。

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  高性能ナノインデンテーション装置

  従来の薄膜・微小部測定に加え、高温測定、大気非暴露測定、高速機械特性マッピング、水中測定などが可能に。

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  Carbon Neutral

  カーボンニュートラル社会の実現に向けて、東レリサーチセンターの最先端分析技術が課題を解決します。

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  先端分析プラットフォーム (TAAP)

  分析の新たな“かたち” の探求のために「先端分析プラットフォーム(TAAP)」を設立いたしました。

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  シミュレーション技術・AI解析のご紹介

  第一原理計算や分子動力学計算の技術で機能発現のメカニズム解明や、物性そのものの予測を実施しております。