蛍光X線分析法(X-Ray Fluorescence Spectrometry:XRF)

原理

試料にX線(一次X線)を照射し、励起されて発生する二次X線(蛍光X線)を検出して元素の定性、定量を行う。K殻の電子のエネルギーよりも高いエネルギーの粒子線・光子を物質に与えるとK殻の電子が飛び出して空孔がでてくる。この空孔を埋めるために外殻からの電子が遷移する時、エネルギー差に相当する元素固有のX線が発生する。

波長分散型蛍光X線(WDX)

蛍光X線を分光結晶で分光してから検出する。
nλ = 2d sinθ : ブラッグの条件
B(ほう素)~の元素を測定できます。EDXと比較して分解能が高くなる。

エネルギー分散型蛍光X線(EDX)

蛍光X線を半導体検出器で検出します。Na(ナトリウム)~の元素を測定できる。

蛍光X線分析法の原理図
固有X線の発生