| Arイオンエッチング |
AIE |
Ar Ion Etching |
| AFM-IR / ナノIR |
AFM-IR/nanoIR |
Atomic Force Microscope - Infrared Spectrometry / Nano - Infrared Spectrometry |
| pH測定 |
pH |
pH measurement |
| X線回折 |
XRD |
X‐ray diffraction |
| X線吸収端近傍構造解析 |
XANES |
X-ray Absorption Near Edge Structure |
| X線吸収微細構造解析 |
XAFS |
X-ray Absorption Fine Structure |
| X線光電子分光法 |
XPS |
X-ray Photoelectron Spectroscopy |
| X線透視 |
|
Micro Focus X-ray Inspection System |
| X線反射率測定 |
GIXR |
Grazing Incidence X-ray Reflectivity |
| X線反射率分析 |
XRR |
X-ray Reflectivity Analysis |
| イオンクロマトグラフィー |
IC |
Ion Chromatography |
| イオンクロマトグラフィー質量分析法 |
IC-MS |
Ion Chromatography - Mass Spectrometry |
| イオン注入 |
|
Ion implantation |
| イオンミリング加工 |
IM |
Ion Milling |
| 異核間多結合相関分光法 |
HMBC |
Heteronuclear Multiple Bond Coherence |
| 異核間多量子相関分光法 |
HMQC |
Heteronuclear Multiple Quantum Coherence |
| ウィークビーム法 |
Weak-Beam |
Weak-Beam method |
| 液体クロマトグラフィー核磁気共鳴法 |
LC/NMR |
Liquid Chromatography / NuclearMagnetic Resonance |
| 液体クロマトグラフィー質量分析法 |
LC/MS |
Liquid Chromatography / MassSpectrometry |
| 液体クロマトグラフィータンデム質量分析法 |
LC/MS/MS |
Liquid Chromatography / Tandem Mass Spectrometry |
| エネルギー分散蛍光X線分析 |
EDX |
Energy Dispersive X-ray Fluorescence |
| エレクトロスプレーイオン化 |
ESI |
Electrospray Ionization |
| オージェ電子分光 |
AES |
Auger Electron Spectroscopy |
| 化学イオン化 |
CI |
Chemical Ionization |
| 拡散反射フーリエ変換赤外分光 |
DRIFT |
Diffuse Reflectance Infrared Fourier Transform |
| 核磁気共鳴 |
NMR |
Nuclear Magnetic Resonance |
| 広域X線吸収微細構造解析 |
EXAFS |
Extended X-ray Absorption Fine Structure |
| 核反応解析 |
NRA |
Nuclear Reaction Analysis |
| 化審法高分子フロースキーム試験 |
|
Polymer Flow Scheme Tests |
| ガスクロマトグラフィー |
GC |
Gas Chromatography |
| ガスクロマトグラフィー炎光光度検出器 |
GC-FPD |
Gas Chromatography - Flame Photometric Detector |
| ガスクロマトグラフィー質量分析法 |
GC/MS |
Gas Chromatography / Mass Spectrometry |
| ガスクロマトグラフィー水素イオン化検出器 |
GC-FID |
Gas Chromatography - Flame Ionization Detector |
| ガスクロマトグラフィー熱伝導度検出器 |
GC-TCD |
Gas Chromatography - Thermal Conductivity Detector |
| ガス透過性 |
|
Gas permeability |
| カソードルミネッセンス |
CL |
Cathodoluminescence |
| 加熱気化導入ICP質量分析法 |
ETV-ICP-MS |
Electrothermal Vaporization-lnductively Coupled Plasma-Mass Spectrometry |
| 環境分析 |
|
Environmental analysis |
| キャピラリー電気泳動分析 |
CE |
Capillary Electrophoresis |
| 吸着等温線 |
|
Adsorption isotherm |
| 球面収差補正走査透過型電子顕微鏡 |
Cs-corrected STEM |
Spherical aberration corrected Scanning Transmission Electron Microscope |
| 共焦点レーザー顕微鏡 |
CLSM |
Confocal Laser Scanning Microscope |
| 共焦点レーザー走査型顕微鏡 |
LSM |
Confocal laser scanning microscope |
| 屈折率測定 |
|
Refractive index measurement |
| グロー放電質量分析法 |
GDMS |
Glow Discharge Mass Spectrometry |
| クロスセクションポリッシャー / ブロードイオンビーム法 |
CP / BIB |
Crosssection Polisher / Broad Ion Beam |
| 蛍光X線分析 |
XRF |
X-ray Fluorescence |
| ゲル浸透クロマトグラフィー |
GPC |
Gel Permeation Chromatography |
| ゲル浸透クロマトグラフィー粘度検出法 |
GPC-VISCO |
Gel Permeation Chromatography - Viscometry |
| ゲル浸透クロマトグラフィー光散乱検出法 |
GPC-LS |
Gel Permeation Chromatography - Laser Light Scattering |
| ゲル浸透クロマトグラフィー動的光散乱検出器 |
GPC-DLS |
Gel Permeation Chromatography - Dynamic Light Scattering |
| ゲル浸透クロマトグラフィー多角度光散乱検出器 |
GPC-MALS |
Gel Permeation Chromatography - Multi Angle Laser Light Scattering |
| ケルビンプローブフォース顕微鏡 |
KFM |
Kelvin probe Force Microscope |
| 原子間力顕微鏡 |
AFM |
Atomic Force Microscope |
| 原子吸光分析法 |
AAS |
Atomic Absorption Spectrometry |
| 顕微フーリエ変換赤外分光(顕微FT-IR) |
micro FT-IR |
Micro Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR) |
| 顕微ラマン |
micro Raman |
Micro Raman Spectroscopy |
| 光学顕微鏡 |
OM |
Optical Microscope |
| 高角度散乱暗視野法 |
HAADF |
High Angle Annular Dark Field |
| 高速液体クロマトグラフィー |
HPLC |
High Performance Liquid Chromatography |
| 高速原子衝撃質量分析法 |
FABMS |
Fast Atom Bombardment Mass Spectrometry |
| 高分解能透過電子顕微鏡 |
HRTEM |
High Resolution Transmission Electron Microscope |
| 高分解能分析電子顕微鏡 |
HRAEM |
High Resolution Analytical Electron Microscope |
| 高分解能ラザフォード後方散乱分析法 |
HR-RBS |
High Resolution-Rutherford Backscattering Spectrometry |
| コンピューター断層撮影 |
CT |
Computed Tomography |
| 細孔径分布 |
PSD |
Pore Size Distribution |
| 材料試験 |
|
Material test |
| 紫外可視分光 |
UV-VIS |
Ultraviolet-Visible Absorption Spectroscopy |
| 磁気力顕微鏡 |
MFM |
Magnetic Force Microscope |
| 示差走査熱量測定 |
DSC |
Differential Scanning Calorimetry |
| 質量分析法 |
MS |
Mass Spectrometry |
| 集束イオンビーム加工走査電子顕微鏡 |
FIB-SEM |
Focused Ion Beam - Scanning Electron Microscope |
| 集束イオンビーム加工透過電子顕微鏡 |
FIB-TEM |
Focused Ion Beam - Transmission Electron Microscope |
| 集束イオンビーム加工 |
FIB |
Focused Ion Beam |
| 昇温脱離-質量分析法 |
TPD-MS |
Temperature Programmed Desorption - Mass Spectrometry |
| 昇温脱離ガス分析 |
TDS |
Thermal Desorption Spectroscopy |
| 蒸気圧測定 |
|
Vapor pressure measurement |
| 水素前方散乱分析法 |
HFS |
Hydrogen Forward Scattering Spectrometry |
| ゼータ電位測定 |
|
Zeta potential measurement |
| 赤外分光 |
IR |
Infrared Spectroscopy |
| 全反射減衰分光法 |
ATR |
Attenuated Total Reflection |
| 全有機炭素測定 |
TOC |
Total Organic Carbon |
| 走査イオン顕微鏡像 |
SIM |
Scanning Ion Microscope |
| 走査型キャパシタンス顕微鏡 |
SCM |
Scanning Capacitance Microscope |
| 走査型透過電子顕微鏡 |
STEM |
Scanning Transmission Electron Microscope |
| 走査型拡がり抵抗顕微鏡 |
SSRM |
Scanning Spreading Resistance Microscope |
| 走査型プローブ顕微鏡 |
SPM |
Scanning Probe Microscope |
| 走査電子顕微鏡 |
SEM |
Scanning Electron Microscope |
| 大気圧化学イオン化 |
APCI |
Atmospheric Pressure ChemicalIonization |
| 電界脱離質量分析法 |
FDMS |
Field Desorption Mass Spectrometry |
| 電界放射型走査電子顕微鏡 |
FE-SEM |
Field Emission-Scanning Electron Microscope |
| 電気力顕微鏡 |
EFM |
Electric Force Microscope |
| 電子イオン化 |
EI |
Electron Ionization |
| 電子エネルギー損失分光 |
EELS |
Electron Energy Loss Spectroscopy |
| 電子後方散乱回折法 |
EBSD |
Electron Back Scatter Diffractionpatterns |
| 電子スピン共鳴分析 |
ESR |
Electron Spin Resonance |
| 電子線マイクロアナリシス |
EPMA |
Electron Probe Micro Analysis |
| 電子線誘起電流 |
EBIC |
Electron Beam Induced Current |
| 透過電子顕微鏡 |
TEM |
Transmission Electron Microscope |
| 動的粘弾性法 |
|
Dynamic viscoelastic measurement |
| トンネリングAFM(原子間力顕微鏡) |
TUNA |
Tunneling atomic force microscope |
| ナノビーム回折 |
NBD |
Nano Beam Diffraction |
| ナノインデンテーション |
|
Nano Indentation |
| 二次イオン質量分析法 |
SIMS |
Secondary Ion Mass Spectrometry |
| 二次元核磁気共鳴(DOSY) |
DOSY |
Diffusion Ordered Spectroscopy |
| 二次元核磁気共鳴(DQF-COSY) |
DQF-COSY |
Double Quantum Filter Correlation Spectroscopy |
| 二次元高速フーリエ変換解析 |
2-D FFT |
two-dimensional Fast Fourier Transform Analysis |
| 熱拡散率・熱伝導率 |
|
Thermal diffusivity ・ Thermal conductivity |
| 熱機械分析 |
TMA |
Thermo - mechanical Analysis |
| 熱重量示差熱分析 |
TG-DTA |
Thermogravimetry - Differential Thermal Analysis |
| 熱重量質量分析法 |
TG-MS |
Thermogravimetry - Mass Spectrometry |
| 熱重量分析法 |
TG |
Thermogravimetry |
| 熱分析 |
TA |
Thermal Analysis |
| 波長分散蛍光X線分析 |
WDX |
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence |
| 発生ガス分析 |
EGA |
Evolved Gas Analysis |
| バックサイドSIMS |
|
Backside SIMS |
| バックサイドXPS |
|
Backside XPS |
| 反射吸収分光 |
RAS |
Reflection Absorption Spectroscopy |
| 反射電子エネルギー損失分光 |
REELS |
Reflection Electron Energy Loss Spectroscopy |
| 光音響分光 |
PAS |
Photoacoustic Spectroscopy |
| 飛行時間型二次イオン質量分析法 |
TOF-SIMS |
Time of Flight - Secondary Ion Mass Spectrometry |
| 比表面積測定(COパルス法) |
|
Specific surface measurement |
| 比表面積測定（BET法） |
BET |
BET(Brunauer–Emmett–Teller) |
| 表面・界面張力・接触角 |
|
surface tensiometry,interfacial tensiometry,contact angle measurement |
| 表面電位顕微鏡 |
SPoM |
Surface Potential Microscope |
| フーリエ変換赤外分光 |
FT-IR |
Fourier Transform Infrared Spectroscopy |
| フォトルミネッセンス |
PL |
Photoluminescence |
| 深い準位の過度吸収測定法 |
DEPT |
Distortionless Enhancement by Polarization Transfer |
| 分析電子顕微鏡 |
AEM |
Analytical Electron Microscope |
| マトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析法 |
MALDI-MS |
Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization-Mass Spectrometry |
| マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析法 |
MALDI-TOFMS |
Matrix Assisted Laser Desorption / Ionization - Time of Flight Mass Spectrometry |
| 密度測定 |
|
Density measurement |
| メスバウアー分光 |
|
Mössbauer spectroscopy / Moessbauer Spectroscopy |
| 有機元素分析 |
EA |
Elemental Analysis |
| 有機組成分析 |
CA |
Composition Analysis |
| 誘導結合プラズマ原子発光分光法 |
ICP-AES |
lnductively Coupled Plasma - Atomic Emission Spectroscopy |
| 誘導結合プラズマ質量分析法 |
ICP-MS |
lnductively Coupled Plasma - Mass Spectrometry |
| 陽電子消滅法 |
PALS |
Positron Annihilation Lifetime Spectroscopy |
| ラザフォード後方散乱分光法 |
RBS |
Rutherford Backscattering Spectrometry |
| ラマン分光 |
Raman |
Raman Spectroscopy |
| リートベルト法 |
Rietveld Method |
Rietveld Method |
| 粒子数・粒径・粒径分布 |
|
Particle counter,Particle size,Particle size distribution |
| 粒子励起X線分光 |
PIXE |
ParticleInduced X-ray Emission |
| レーザーアブレーション誘導結合プラズマ質量分析法 |
LA-ICP-MS |
Laser Ablation - lnductively Coupled Plasma - Mass Spectrometry |