導入装置一覧

東レリサーチセンターの各研究部が保有している導入装置についてご案内します。
最新の分析装置をいち早く導入し、最先端の技術をご提供。また、業界最大クラスの保存設備を保有し、多彩な保存条件にも対応しております。

最新導入装置

2022.12
AFM-Raman 「ナノ」ラマン分析装置が仲間に加わりました！

AFM-Raman専用設計の「光アンテナ」プローブを利用することで、従来ラマン測定の空間分解能を遥かに超えた高感度「ナノ」ラマンイメージングを実現します。
（別名：チップ増強ラマン分光法、Tip-enhanced Raman scattering microscopy；TERS）特に先端ナノ材料（カーボンナノチューブ、グラフェンなど）の微小部構造解析に高い威力を発揮します。

≪関連資料≫
AFM-Raman 「ナノ」ラマン分析装置が仲間に加わりました！
2021.06
ガス分析対応型高分解能GC/Q-TOFを導入しました

ガス分析も可能な高分解能GC/MS装置を導入しました。これまで、加熱発生ガス分析や臭気分析等を実施したけれども、成分の構造特定までは出来なかったといった経験はございませんか？精密質量解析やCI測定、MS/MS測定を組み合わせることによって、より精度の高い構造解析が可能となりました。
また、今回導入した装置には、デコンボリューション解析、多変量解析、GC×GC測定の機能も搭載しております。これらの機能を用いることにより、”主成分に隠れたにおいの原因物質を見つけ出したい”　“ロット間での極微小なガス成分の違いを調べたい”　“多成分からなるガスについて、視覚的に分類を行いたい”　といったご要望にお応えすることも可能です。ガスについて、お困りのことがありましたら、是非ともお問い合わせください。

≪関連資料≫
高分解能GC/Q-TOF × 多変量解析　隠れた臭気成分を見つけ出す
 高分解能GC/Q-TOF × MS/MS, CI測定　フッ素樹脂加熱発生ガスの定性分析
2021
高性能ナノインデンテーション装置を導入しました

高性能ナノインデンテーション装置を導入しました。本装置は、薄膜または微小試料の機械特性を測定する装置です。従来の薄膜・微小部測定に加え、①高温測定、②大気非暴露測定、③高速機械特性マッピング（２次元、３次元）、④水中測定、などの機能を有しています。既設の高空間分解能ナノインデンテーション装置と合わせ、薄膜・フィルム・部材表面の力学・粘弾性特性評価、積層材料や表層改質材料の断面解析、ブレンドポリマーの相分離解析等に幅広く活用できますので、是非お声がけください。
2019.10
国内初、ナノオーダー赤外分光装置（IR/Raman同時測定）を導入しました

従来のFT-IRでは困難であった高空間分解能（500nm程度）での赤外分析が可能になりました。
微小異物の組成分析や積層試料、界面の組成分析、構造解析に適用可能であり、同一光学系で測定可能なラマン分析を併用することで、無機物から有機物まで、高い解析能力を実現します。

≪関連資料≫
新規ナノオーダー赤外分光による微小部組成分析
2019.09
充放電/昇温 in situ X線回折　導入しました

充放電や昇温過程におけるその場（in situ）X線回折測定のニーズに応えるべく、従来よりも高速で測定できるX線回折装置を導入しました。充放電や昇温時の反応に伴う結晶相変化をより詳細に解析可能になります。
リチウムイオン二次電池の研究用ラミネートセルに対して透過性の高いMo線源と2次元検出器を用いることで、10C（６分で放電または充電）程度の高速充放電においても正負極の結晶相変化を測定できるようになりました。また、広可動域ステージを搭載し、電極面内における反応分布のマッピング測定も可能です。
昇温測定については気密高温ステージを用い、グローブボックスなどの不活性雰囲気に近い状態で測定することができます。また、ガスフロー機構も搭載し、特殊雰囲気下での測定も可能です。
工業材料などの一般的な測定から、充放電や昇温過程におけるその場測定まで可能な装置となっております。各種in situ X線回折測定のご要望がありましたら、是非お問い合わせください。

≪関連資料≫
充放電in situ XRDを用いたLIBの劣化解析
2019.06
Qバンド／高温 ESR　導入しました

ラジカルの高分解能測定及び高感度・高温測定のニーズに応えるべく、Qバンド／高温ESR装置を導入しました。ラジカルはポリマーの劣化や反応の活性点、着色源、各種材料の欠陥構造等として存在するため、ラジカル種を特定し、その量を把握することは材料の設計開発を行う上で非常に有効です。ESR法ではラジカルを高感度かつ定量的に評価することが可能です。
本装置では、一般的に使用されるXバンド（9.5 GHz）において、従来機比、高感度かつ高温（～900℃）での測定が可能となりました。また、より高周波であるQバンド（34 GHz）を搭載しており、Xバンド測定に比べ、分解能が約4倍向上、遷移金属イオンや希土類イオンなどの不対電子を複数持つ高スピン系のスペクトル解析が詳細に行えるようになりました。適用分野は、耐熱性高分子の熱劣化及び変色要因解析、複合材料や電池材料などの各種雰囲気下でのラジカル発生・減衰過程評価、セラミックス材料中の欠陥及び遷移金属イオン評価等です。IRやNMRではわからない初期反応過程を評価したい、着色要因を特定したい等のご要望がありましたら、是非お問い合わせください。
2019.04
LESA（局所表面溶媒抽出ロボットイオン源）を搭載したNano ESI-MSを導入しました

有機分析化学研究部では、新たにLESA（Liquid Extract Surface Analysis）機能を搭載したNano ESI-MSシステムを導入しました。これまでに対応が困難だった以下の2点が可能になりました。
①解離性化合物（錯体、有機金属塩）や特殊な溶液（高濃度溶液、高/低pH溶液）中成分の構造解析
Nanoフローにより、従来よりソフトなイオン化電圧条件で測定可能なことから、試料量が微量でも高感度で分子量関連イオンを安定的に検出可能です。またOrbitrapによる高質量分解能測定であることから、高精度な組成演算が可能です。
②局所的な溶媒抽出 Nano ESI-MS測定
ロボットイオン源によるLESA機能を使用することで、試料表面の局所的な（空間分解能＞400 μmφの）溶媒抽出液を調製して、表面付着成分の詳細な構造解析が可能です。
様々な分野に適用可能な装置ですので、まずはお気軽にお問い合わせください。

≪関連資料≫
LESA搭載Nano ESI-MS
2017.06
TOF-SIMSについて
Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry
(飛行時間型２次イオン質量分析)

試料にパルス化された1次イオンビームを照射すると、スパッタリング現象により2次イオンが放出されます。質量に応じた速度を有するイオンを飛行時間型(TOF型)質量分析計で質量分離して検出します。
1次イオン照射量の小さい低ダメージの測定により、最表面の元素組成や化学構造情報が得られます。

≪関連資料≫
TOF-SIMS特集ページ