

超高分解能分析電子顕微鏡による新規分析サービスを開始しました。
収差補正+Cold-FEG+高感度EDX+低加速測定が、
分析の常識を変える!
「第8回半導体デバイス分析セミナー」無料!(事前申込制)の申込受付中NEW!
開催日時:5月17日(木) 13:00〜17:50
開催会場:東京/東京コンファレンスセンター・品川
・申込みはここからお願いします。
・当社の「個人情報保護方針」はこちらをご確認ください。
「TRCポスターセッション2012」無料!(事前申込制)の申込受付中NEW!
大阪会場 6月14日(木)
横浜会場 6月21日(木)
・申込みはここからお願いします
・当社の「個人情報保護方針」はこちらをご確認ください。
*同時開催:横浜会場の6月21日(木)は「TRC第9回医薬ポスターセッション」を同時開催!
「TRC第9回医薬ポスターセッション」無料!(事前申込制)の申込受付中NEW!
開催日:6月21日(木)
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*TRCポスターセッション2012(横浜会場)も同時開催!
・分析
・イベント
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開催日時:5月17日(木) 13:00〜17:50
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・出版