多周波/高温ESR装置によるラジカル及び金属イオンの評価
―フッ素系樹脂、ダイヤモンド粉末、シリカガラス、発光体粉末への適用―

記事No. 201906-02
タイトル

多周波/高温ESR装置によるラジカル及び金属イオンの評価
―フッ素系樹脂、ダイヤモンド粉末、シリカガラス、発光体粉末への適用―
著者 構造化学研究部　山口 陽司、沢井 隆利、熊沢 亮一
要旨 最も一般的なXバンド（9.5 GHz）のマイクロ波を用いたESR測定に比べ、高周波数のマイクロ波を用いたESR測定は、ESRスペクトルの分解能向上やスペクトル解析に有効である。
本稿では、新規導入したXバンド及びQバンド（34 GHz）ESR装置を用いたフッ素系樹脂、ダイヤモンド粉末、シリカガラス、発光体粉末の分析事例を紹介する。
目次
（全4ページ）
  1. はじめに
  2. 新規ESR装置の特徴
  3. フッ素系樹脂の高温ESR測定事例
  4. QバンドESR測定事例
  5. まとめ
図表
  1. ESR装置の周波数と分解能の関係
  2. ETFEのESRスペクトル（空気中加熱）
  3. O-リングのESRスペクトル（空気中加熱）
  4. ETFEからの発生ガスのFT-IRスペクトル（空気中加熱）
  5. ダイヤモンド粉末のESRスペクトル
  6. γ線照射したホウ素含有シリカガラスのESRスペクトル
  7. Eu2+発光体粉末のESRスペクトル
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