DPC-STEMを用いたポリマー相分離構造の解析

記事No. 201902-01
タイトル

DPC-STEMを用いたポリマー相分離構造の解析
著者 形態科学研究部　稲元 伸
要旨 走査透過型電子顕微鏡（STEM）の測定手法の一つである微分位相コントラスト（DPC）-STEMは、微小部の電場を測定することが可能である。
我々は、本手法をポリマーアロイに適用することで、従来の電子顕微鏡では観察が困難な相分離構造のコントラストが出現することを見いだした。
目次
（全4ページ）
  1. はじめに
  2. 元素分析によるソフトマテリアルの可視化
  3. DPC-STEM法の適用
  4. おわりに
図表
  1. アクリロニトリル・スチレン共重合体(AS)とブタジエンゴム(BR)からなるポリマーアロイであるABS樹脂のTEM像
  2. 一般的なポリウレタンのRuO4電子染色後のTEM像、硬質ポリウレタンのRuO4電子染色後のTEM像
  3. 無染色のABS樹脂のHAADF-STEM像およびN, Mg, CaのEDXマップ
  4. DPC-STEMの測定原理図
  5. 無染色ABS樹脂のHAADF-STEM像、DPC-STEMで測定した電場分布、および電場分布から算出したポテンシャル分布
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