マルチイオン種プラズマFIB/SEM(Helios 5 Hydra)

機能と特徴

  • 大電流ビーム(従来比~40倍)による高速/広域加工
  • 4種のイオン(Xe, Ar, O, N)による新規アプリケーション
  • 高分解能SEMによる加工終点確認
  • 大気非暴露による変質を抑制した加工・観察
  • クライオ環境による熱ダメージを抑制した加工・観察
  • EDXによる加工断面の構成元素把握
  • 大容量3D-SEM測定による解析データ増加と高精度な統計解析
イオン種 FIB電流値
Xe ~2.5 μA
Ar ~4.0 μA
O ~1.0 μA
N ~2.0 μA
 Ga(従来) ~65 nA

分析例

関連技術資料

料金体系

利用料金
1回(1日)基本料金 + オプション料金
*お問い合わせ内容に基づきお見積り致します。

基本料金内で実施可能な内容

  • 利用内容の事前討議
  • 画像取得
  • 取得データの記録メディア保存
  • イオン種切り替え
  • Easy-lift(ピックアップ)
  • 3DSEM測定
  • EDX測定
  • 9~17時までの利用

オプション項目

  • クライオ環境での加工・観察
  • 不活性搬送
  • 画像解析
  • 試料前処理(染色、導電処理など) 
  • 試料保管
  • データ保管*
  • 時間延長
  • 複数日連続利用(夜間加工など)

*通常は、利用終了後、消去します