主な外部発表(口頭、ポスター等　および　投稿論文)

  • ※主として学会発表や学術雑誌等への投稿論文を対象とします。
  • ※共同研究機関の敬称は省略させていただきます。
  • ※●印は主席発表者

2026年3月

  • 酸化物半導体を有する積層薄膜の深さ方向膜質評価

    発表者
    ●棚橋 優策、坂田 智裕、桑内 康文、小川 慎吾、関 洋文、坂井 洸太1、小林 正治1 (1:東京大学)
    学会・雑誌
    第73回応用物理学会春季学術講演会 (東京)
    種類
    ポスター
    発表日
    2026/3/15

  • フォトルミネッセンス(PL)イメージング法の通信用LDの不良解析への適用検討

    発表者
    ●本田 真也、内田 智之、杉江 隆一
    学会・雑誌
    第73回応用物理学会春季学術講演会 (東京)
    種類
    ポスター
    発表日
    2026/3/17

  • ポリマーアロイ及び複合材料界面のAFM-IRによるナノスケール構造解析

    発表者
    ●長坂龍洋、冨田和孝、沖野隼之介
    学会・雑誌
    第73回応用物理学会春季学術講演会 (東京)
    種類
    ポスター
    発表日
    2026/3/17

  • Li 金属表面における局所的変質挙動のイオンビーム分析による解明

    発表者
    ●松野尾 尚子、小北 哲也、林 裕美、山元 春美、松村 海佑、辻 洋悦、青木 靖仁
    学会・雑誌
    第73回応用物理学会春季学術講演会 (東京)
    種類
    口頭
    発表日
    2026/3/15

  • 半導体デバイスをターゲットとしたイオンビームによる表面分析

    発表者
    ●鮫島純一郎、中田由彦、須田泰市、林裕美、小坂志乃、齋藤正裕、小北哲也、山元隆志
    学会・雑誌
    第73回応用物理学会春季学術講演会 (東京)
    種類
    口頭（依頼講演）
    発表日
    2026/3/17

  • 表面分析におけるArイオンエッチングがGaN表面に与える影響

    発表者
    ●五十嵐陽彦、安居麻美、浅原千鶴、日高遥香、坂田 智裕
    学会・雑誌
    第73回応用物理学会春季学術講演会 (東京)
    種類
    口頭
    発表日
    2026/3/18

  • A Novel Interface Characterization Technique for Hybrid Bonding Process Optimization

    発表者
    ●Masahiro Saito, Tomohiro Sakata, Tetsuro Ota, Jumpei Yahiro, and Ryu Suzuki
    学会・雑誌
    Conference of Science & Technology for Integrated Circuits (CSTIC)2026 (上海)
    種類
    ポスター
    発表日
    2026/3/23

  • Infrared Ion Spectroscopy-Based Identification of a Trace Impurity in Organic Light-Emitting Diode Materials Without Fully Matched Reference Standards

    発表者
    Hikaru Takano, Daniël Visser1, Lara van Tetering1,2, Teun van Wieringen1,2, Giel Berden1,2, Jos Oomens1,2, Daichi Shirakura, Hiroshi Fujimoto3,4, Chihaya Adachi3,4, Keiko Matsuda
    (1:HFML-FELIX, 2:Radboud University, 3:i3-opera, 4:Kyushu University)
    学会・雑誌
    Analytical Chemistry, 2026, 98(10), 7603-7612.
    https://doi.org/10.1021/acs.analchem.5c07556
    種類
    報文
    発表日
    2026/3/17