主な外部発表(口頭、ポスター等 および 投稿論文)
- ※主として学会発表や学術雑誌等への投稿論文を対象とします。
- ※共同研究機関の敬称は省略させていただきます。
- ※●印は主席発表者
2024年6月
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Providing solutions to Challenges in Recycled Polymer Processing via Innovative Analytical Techniques
- 発表者
- 古島圭智
- 学会・雑誌
- PIAE2024 主催 VDI Wissensforum(ドイツ)
- 種類
- 口頭
- 発表日
- 2024/6/19
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NMR緩和時間測定の工業材料への応用
- 発表者
- 三好理子
- 学会・雑誌
- 日本分光学会 年次講演会(東京)
- 種類
- 口頭
- 発表日
- 2024/6/20
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平面カソードルミネッセンスによる半導体の深さ方向ダメージ評価
- 発表者
- ●杉江 隆一、内田 智之、井上 憲介
- 学会・雑誌
- 日本顕微鏡学会第80回学術講演会(千葉)
- 種類
- 口頭
- 発表日
- 2024/6/5
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逐次二軸延伸 poly(ethylene terephthalate) 熱処理フィルムの機械学習を用いた長周期構造および結晶構造の解析
- 発表者
- ●岡田一幸、光澤佳奈、冨澤錬1、金慶孝1、大越豊1、金谷利治2
(1: 信州大学、2: 京都大学)
- 学会・雑誌
- 2024年繊維学会年次大会(東京)
- 種類
- ポスター
- 発表日
- 2024/6/12
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SiO2薄膜における伸縮振動ピークのSTEM-EELS 測定
- 発表者
- ●川崎直彦,稲元伸,大塚祐二,治田充貴1 (1: 京都大学)
- 学会・雑誌
- 日本顕微鏡学会第80回学術講演会(千葉)
- 種類
- ポスター
- 発表日
- 2024/6/3
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マルチイオン種プラズマFIB によるGaN 加工のダメージ評価
- 発表者
- ●林将平、橋本愛、迫秀樹、川崎直彦
- 学会・雑誌
- 日本顕微鏡学会第80回学術講演会(千葉)
- 種類
- ポスター
- 発表日
- 2024/6/3
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プリセッションアシスト4D-STEMを用いたCo2MnSi薄膜の微細構造解析
- 発表者
- ●杉山直之、山田道洋1、浜屋宏平1 (1: 大阪大学)
- 学会・雑誌
- 日本顕微鏡学会第80回学術講演会(千葉)
- 種類
- 口頭
- 発表日
- 2024/6/3
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傾斜平均化DPC STEM法によるスパイク状金ナノ粒子の電場観察
- 発表者
- ●稲元伸、川崎直彦、大塚祐二
- 学会・雑誌
- 日本顕微鏡学会第80回学術講演会(千葉)
- 種類
- 口頭
- 発表日
- 2024/6/3
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各種質量分析法によるウレタン樹脂の劣化構造解析
- 発表者
- ●田口嘉彦、木村一雄、秋山毅、日下田成、松田景子
- 学会・雑誌
- 第72回質量分析総合討論会(つくば)
- 種類
- ポスター
- 発表日
- 2024/6/10
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t-SPESI-質量分析イメージングによる高分子フィルム用光安定剤の光劣化反応生成物の可視化
- 発表者
- ●秋山毅、大塚洋一1、孫夢沢1、平山明由2、豊田岐聡1
(1: 大阪大学、2: 慶応大学)
- 学会・雑誌
- 第72回質量分析総合討論会(つくば)
- 種類
- ポスター
- 発表日
- 2024/6/11
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ピンポイント濃縮プレートを用いたスプリットレス熱分解GC/MS, LESA-nanoESI-MSによる燃料電池用セパレータの微量付着物の定性分析
- 発表者
- ●秋山毅、小川美由紀、日下田成、松田景子
- 学会・雑誌
- 第72回質量分析総合討論会(つくば)
- 種類
- ポスター
- 発表日
- 2024/6/11
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NanoESI-MSMS測定を用いた材料選択における安定性評価
- 発表者
- ●李茜、日下田成、松田景子
- 学会・雑誌
- 第72回質量分析総合討論会(つくば)
- 種類
- ポスター
- 発表日
- 2024/6/12
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NEA型半導体フォトカソード電子銃を活用したフッ素系高分子の低ダメージ分析の検討
- 発表者
- ●石川 純久、大塚 祐二、新美 浩太郎1、西谷 智博1
(1: Photo electron Soul)
- 学会・雑誌
- 日本顕微鏡学会第80回学術講演会(千葉)
- 種類
- 口頭
- 発表日
- 2024/6/5