主な外部発表(口頭、ポスター等　および　投稿論文)

  • ※主として学会発表や学術雑誌等への投稿論文を対象とします。
  • ※共同研究機関の敬称は省略させていただきます。
  • ※●印は主席発表者

2018年6月

  • The study of applying the surface enhanced infrared absorption (SEIRA) to biosensor application

    発表者
    ●Hirofumi Seki, Emanuel Pfitzner1, Keiko Inoue, Kenichi Ataka1 and Joachim Heberle1
    （1：Freie Universität Berlin.）
    学会・雑誌
    第2回 台湾-日本国際交流シンポジウム
    種類
    ポスター
    発表日
    2018/6/1

  • A Kineyic study on thermal degradation of polymeric materials

    発表者
    ●T. Ohkawa, M. Hata, H. Takahashi, Y. Takai
    学会・雑誌
    22th International Symposium on Analytical and Applied Pyrolysis
    種類
    ポスター
    発表日
    2018/6/5

  • 高速カロリメトリーと他手法のハイフネーションによる高分子の高次構造解析の深化

    発表者
    ●古島 圭智、高井 良浩
    学会・雑誌
    プラスチック成形加工学会第29回年次大会
    種類
    ポスター
    発表日
    2018/6/20

  • In situ RBS NRA analysis for Li depth profile in solid state electrolyte

    発表者
    ●Masahiro Saito, Issei Sugiyama1, Ryota Shimizu1, Taro Hitosugi1
    （1：Tokyo Institute of Technology）
    学会・雑誌
    The 19th International Meeting on Lithium Batteries
    種類
    ポスター
    発表日
    2018/6/21

  • Applicatons of AFM-based vibrational nanoscopy: from semiconductors to polymers

    発表者
    ●Yasuhiko Fujita, Masataka Murakami and Masanobu Yoshikawa
    学会・雑誌
    Raman Fest 2018
    種類
    口頭
    発表日
    2018/6/25

  • Degradation analysis of OLEDs model samples by GCIB-TOF-SIMS and TOF-SIMS with MS/MS system

    発表者
    ●D. Shirakura, T. Shibamori, and J. Sameshima
    学会・雑誌
    The Scientific International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions (SISS) -20
    種類
    ポスター
    発表日
    2018/6/28

  • Quantitative Depth Profiling of Hydrogen in Metals by Cryogenic Secondary Ion Mass Spectrometry

    発表者
    ●L. Zheng, N. Fujiyama, T. Nishitani, K. Ogawa, and J.Sameshima
    学会・雑誌
    The Scientific International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions (SISS) -20
    種類
    ポスター
    発表日
    2018/6/28

  • Secondary Ion Behavior of Residual Gas Components during TOF-SIMS Depth Profiling with Low Sputtering Rate

    発表者
    ●J. Sameshima, S. Numao and M. Yoshikawa
    学会・雑誌
    The Scientific International Symposium on SIMS and Related Techniques Based on Ion-Solid Interactions (SISS) -20
    種類
    ポスター
    発表日
    2018/6/28

  • 異種材料接着のための表面・界面分析

    発表者
    萬 尚樹、竹田 正明、高橋 久美子
    学会・雑誌
    日本接着学会誌 Vol.54 No.6 (2018)
    種類
    報文
    発表日
    2018年6月