主な外部発表(口頭、ポスター等　および　投稿論文)

  • ※主として学会発表や学術雑誌等への投稿論文を対象とします。
  • ※共同研究機関の敬称は省略させていただきます。
  • ※●印は主席発表者

2016年3月

  • 企業における研究開発とキャリアパス

    発表者
    ●関 洋文
    学会・雑誌
    日本分光学会関西支部 H27年度 総会・講演
    種類
    口頭
    発表日
    2016/3/9

  • 第63回応用物理学会春季学術講演会

    発表者
    ●国須 正洋、辻 淳一、八尋 惇平、大田 玲奈、山元 隆志、高井 良浩、仁谷 浩明1、丹羽 尉博1、阿部 仁1、木村 正雄1
    （1：高エネ研)
    学会・雑誌
    2015年度量子ビームサイエンスフェスタ（第33回PFシンポジム）
    種類
    ポスター
    発表日
    2016/3/15

  • 微細構造を有する有機材料のSTXM評価

    発表者
    ●八尋 惇平、国須 正洋、宮田 洋明、辻 淳一、増田 昭博、武市 泰男1、間瀬 一彦1、木村 正雄1、高橋 嘉夫1
    （1：高エネ研)
    学会・雑誌
    2015年度量子ビームサイエンスフェスタ（第33回PFシンポジウム）
    種類
    ポスター
    発表日
    2016/3/15

  • 貧酸素化に伴う琵琶湖底泥からのMn2+の溶出～キャピラリー電気泳動法を用いたMn2+モニター手法の検討～

    発表者
    ●中島 沙知、田辺 健二、冨永 達哉、溝口 康彦
    学会・雑誌
    第50回日本水環境学会年会
    種類
    ポスター
    発表日
    2016/3/17

  • HfO2/GeO2/Geスタック構造におけるゲルマニウムと酸素の熱拡散に関する研究

    発表者
    ●小川 慎吾、浅原 亮平1、箕浦 佑也1、迫 秀樹、川崎 直彦、山田 一子、宮本 隆志、細井 卓治1、志村 考功1、渡部平司1
    （1：阪大院工）
    学会・雑誌
    第63回応用物理学会春季学術講演会
    種類
    ポスター
    発表日
    2016/3/19

  • 水素前方散乱測定を用いたBaH2のヒドリドイオン電界応答観察

    発表者
    ●大口 裕之1,2,3、齋藤 正裕、佐藤 豊人4、桑野 博喜1、折茂 慎一4,6、一杉 太郎5,6
    (1：東北大院工、2：東北大μSIC、3：東北大NICHe、4：東北大金研、5：東北大AIMR、6：東工大）
    学会・雑誌
    第63回応用物理学会春季学術講演会
    種類
    口頭
    発表日
    2016/3/21

  • 半導体デバイスの3D-SEM解析

    発表者
    ●伊藤 元剛
    学会・雑誌
    第 30 回 エレクトロニクス実装学会春季講演大会（ものづくり セッション）
    種類
    口頭
    発表日
    2016/3/22

  • NMRによる固体電解質中Liイオンの分子運動性解析

    発表者
    ●崎山 庸子、三好 理子、長谷川 裕一、齋藤 正裕
    学会・雑誌
    日本化学会 第96春季年会
    種類
    口頭
    発表日
    2016/3/26

  • 難溶性ポリマー医薬TRK-390の不純物の定量法の確立2－残留溶媒－

    発表者
    ●高橋 弘純1、白木 元明1、吉田 具弘
    （1：東レ医薬研）
    学会・雑誌
    日本薬学会第136年会
    種類
    ポスター
    発表日
    2016/3/28

  • 水素前方散乱測定を用いた界面近傍の水素濃度その場観察

    発表者
    ●大口 裕之1,2,3、齋藤 正裕、佐藤 豊人5、桑野 博喜1、 折茂 慎一5,6、一杉 太郎5,6
    （1：東北大院工、2：東北大μSIC、3：東北大NICHe、4：東北大金研、5：東北大AIMR、6：東工大）
    学会・雑誌
    電気化学会第83回大会
    種類
    口頭
    発表日
    2016/3/29

  • 固体電解質中のLiイオン濃度分布:電圧印加下その場測定

    発表者
    ●杉山 一生1、齋藤 正裕、清水 亮太1、一杉 太郎1,2
    （1：東北大AIMR、2：東工大理工）
    学会・雑誌
    第63回応用物理学会春季学術講演会
    種類
    口頭
    発表日
    2016/3/31

  • 固体電解質中Liイオン濃度分布の電圧印加下その場測定

    発表者
    ●杉山 一生1、齋藤 正裕、青木 靖仁、大塚 祐二、清水 亮太1、一杉 太郎1,2
    （1：東北大AIMR、2：東工大理工）
    学会・雑誌
    電気化学会第83回大会
    種類
    口頭
    発表日
    2016/3/31

  • Characterization of process-induced defects in SiC MOSFETs by cross-sectional cathodoluminescence

    発表者
    ●R. Sugie, T. Uchida, K. Kosaka, and K. Matsumura
    学会・雑誌
    Japanese Journal of Applied Physics 55, 04ER03 (2016)
    種類
    報文
    発表日
    2016年3月

  • 3-D Analysis of a Copper Flip-Chip Interconnection Using FIB-SEM Slice and View

    発表者
    ●Mototaka Ito
    学会・雑誌
    ELECTRONIC DEVICE FAILURE ANALYSIS
    種類
    報文
    発表日
    2016年3月

  • シリコン結晶欠陥評価へのカソードルミネッセンス法の応用

    発表者
    ●杉江 隆一、内田 智之、小坂 賢一
    学会・雑誌
    「表面科学」Vol. 37, No. 3, 122（2016）
    種類
    報文
    発表日
    2016年3月