導入装置紹介

AFM-Raman「ナノ」ラマン分析装置が仲間に加わりました！

AFM-Raman専用設計の「光アンテナ」プローブを利用することで、従来ラマン測定の空間分解能を遥かに超えた高感度「ナノ」ラマンイメージングを実現します。 （別名：チップ増強ラマン分光法、Tip-enhanced Raman scattering microscopy；TERS）特に先端ナノ材料（カーボンナノチューブ、グラフェンなど）の微小部構造解析に高い威力を発揮します。

AFM-Ramanの特徴

特徴 新規AFM-Raman法 顕微ラマン分光法
空間分解能の飛躍的な向上 20 nm（0.02 μm） 1 μm（光の回折限界）
検出限界感度の向上 1,000～100,000倍（ラマン増強率）
例： 有機単分子膜やカーボンナノチューブ１本のラマン信号を検出可能 		1
ナノレベルの表面形態観察 AFMによるサブnmの分解能 光学顕微鏡の分解能（１μm）
観察領域 サブμmの微小部 広視野（マイクロ～ミリメートル）
適用試料範囲 ナノカーボン、微小生体分子、有機単分子膜などのナノ材料 有機物～無機物の幅広いバルク材料
－両分光法の組み合わせにより、対象材料の広領域～微小部に渡る包括的な構造解析が可能となります－

技術資料 (ダウンロードできます)

  • ①AFM-RAMANを用いたナノスケール構造解析

    AFM-Raman法の簡単な原理や空間分解能・感度の向上などについて紹介します。

    AFM-R_1_P01488.pdf

  • ②AFM-RAMAN法を用いたナノカーボンの局所構造解析

    「次世代」AFM-Ramanプローブ（北海道大学雲林院研究室開発）を用いたナノカーボン材料の構造解析事例を紹介します。

    AFM-R_2_P01793.pdf

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