HALT試験

非常に強い温度と振動のストレスを加えて製品の弱点がどこにあるのかを大変短い時間で確認することができる試験手法です。

概要

HALTとは、Highly Accelerated Limit Testの略です。非常に強い温度と振動ストレスを加えて製品の弱点がどこにあるのかを短い時間であぶり出すことができます。構造的欠陥(ネジ外れ、コネクタ抜けなど)や実装基板の不具合(部品剥離、脱落や基板破壊)を試作品レベルで早期発見し、量産前に修正、市場での不具合を低減します。

サービス内容

  • 標準ステップテスト(以下5種のテストパターンを適用します。) 冷却ステップ、加熱ステップ、温度急変サイクル、振動ステップ、複合ステップ
  • 試験結果の分析評価
  • 適用技術相談
  • その他、取付治具の設計加工 等

特長・効果

  • 設計・製造上の問題を迅速に発見できます。
  • 市場での障害を再現し、対策効果を短期間で評価できます。
  • ローコスト部品の短期間での採用評価ができます。
  • 他社製品との耐力ベンチマークが短期間でできます。

実績

  • スマートフォン、ノートPC等のポータブル製品。
  • 大型、小型通信機器、電子制御ユニット
  • 車載カメラ、ウェアラブルカメラ
  • 各種装置の実装基板ユニット