金属・無機材料の分析には、材料種類や目的、更には試料の状態により、様々な分析手法が考えられるため、目的にあった手法を選択する必要があります。当社では、各種物性測定、構造解析、組成分析等により、総合的な材料評価を行っています。
物性測定
バルクから薄膜、微小域まで、様々なサイズで、力学物性をはじめとする各種物性分析や熱物性の測定を行います。
構造解析
結晶などの組成や状態、配向や粒界の状態や結晶欠陥・転移など調べる構造解析、製品の信頼性に関わる残留歪み・応力の評価など、様々な視点から材料の構造を評価します。
無機組成分析
主成分元素から微量不純物まで、長年の経験に基づくノウハウを駆使して、信頼性の高い測定結果をご提供します。
分析メニュー
| 項目 | 手法 | ||
|---|---|---|---|
| 物性測定 | 力学物性 | 弾性率 | バルク/引張(圧縮)試験 |
| 薄膜・微小域/ナノインデンテーション法 | |||
| 熱歪み解析 | 歪みゲージ法 | ||
| 熱物性 | 線膨張係数 | バルク/TMA法、レーザ干渉法、歪みゲージ法 | |
| 薄膜/薄膜ストレス測定法 | |||
| 比熱容量 | DSC法 | ||
| 熱伝導率 | バルク/フラッシュ法 | ||
| 薄膜/光交流法、3ω法 | |||
| 微小域(熱伝導性)/µ-TA | |||
| 構造解析 | (結晶)構造解析 | X線回折、Raman、TEM(電子回折)、EBSD | |
| FT-IR、固体NMR、XAFS | |||
| 歪み・応力 | Raman、X線回折、TEM(n-ED) | ||
| 粒界・欠陥・転位 | TEM、SEM、CL(カソードルミネッセンス) | ||
| PL(フォトルミネッセンス) | |||
| 無機組成分析 | 主成分分析 | 蛍光X線分析 | |
| ICP-AES(誘導結合プラズマ-発光分光分析法) | |||
| 微量不純物分析 | GDMS(グロー放電質量分析法) | ||
| ICP-MS(誘導結合プラズマ-質量分析法) | |||
| ICP-AES(誘導結合プラズマ-発光分光分析法) | |||