分析基礎講座【原子間力顕微鏡(AFM),ナノインデンテーション】

開催日時
2017年12月14日(木)13:30~17:00【申込締切:2017年12月13日(水)】
会場
大阪府大阪市東淀川区東中島1-18-22 新大阪丸ビル別館 3-1号室
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参加費用
45,000円(税込)
講師
研究部門 室長 竹田正明

申し込み受付を終了しました。

講座概要

材料の機械特性測定は、設計・シミュレーションのための物性値取得のみならず、材料の劣化等の現象解明の糸口としても重要な位置づけとなります。
原子間力顕微鏡(AFM)は、先端の鋭いプローブを用いて試料表面の凹凸形状を観察したり、走査時の位相差から機械特性分布を把握する方法として広く用いられます。
一方、ナノインデンテーション法は、従来の硬さ試験の荷重・変位分解能を向上させた手法であり、薄膜や特定微細部位の機械特性評価方法として広く用いられています。
近年では両手法の技術の進歩により、AFMを用いた機械特性評価、あるいはAFM機能を活用したナノインデンテーション測定が行われるようになってきました。

本講座では、両手法の基本原理や測定モードの解説と、各々の測定事例について紹介します。

カリキュラム

はじめに
  1. 機械的特性とは
  2. 材料の機械的特性評価方法の特徴(バルク~ナノまで)
インデンテーション法
  1. インデンテーション法の原理
  2. インデンテーション法の評価事例紹介
原子間力顕微鏡(AFM)
  1. AFMの原理
  2. FMによる機械特性評価事例紹介
インデンテーション法、AFMによる機械特性評価の応用事例の紹介
まとめと今後の展望

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