分析基礎講座
【電子顕微鏡の前処理の基礎～ソフトマテリアル～】＜午前＞
【電子顕微鏡の前処理の基礎～ハードマテリアル～】＜午後＞
- 開催日時
- ～ソフトマテリアル～2017年7月7日（金）9:30～12:45＜午前＞
～ハードマテリアル～2017年7月7日（金）14:00～17:30＜午後＞
【申込締切：2017年7月6日（木）】
- 会場
- 東京都中央区日本橋本町1-1-1 METLIFE日本橋本町ビル 8階
（株式会社東レリサーチセンター内 第2会議室）
地図はこちら (Google Map)
- 参加費用
- ソフトマテリアルのみ ＜午前＞ 45,000円（税込）
ハードマテリアルのみ ＜午後＞ 45,000円（税込）
- 講師
- 研究部門 室長 加藤淳
主席研究員 増田昭博
申し込み受付を終了しました。
日程を変更し開催いたします。
特別価格のご案内
午前と午後の両講座を同時お申込みで特別価格の85,000円（税込）にてご受講頂けます。
同時お申込みを希望の方は、お申し込み時の「ご連絡・問い合わせ・メッセージ」欄に
「同時申込みによる特別価格希望」とご記載下さい。
特別価格 90,000円（税込） → 85,000円（税込）
講座概要
電子顕微鏡はミクロ～ナノの構造を直接観察できる手法であり、さまざまな場面で広く活用されていますが、得られるデータの質は、前処理の出来栄えに大きく左右されます。
本講座では、電子顕微鏡分析を始められたばかりの方、これから始められる方を対象に、電子顕微鏡分析のための前処理方法の基礎について説明します。 午前はポリマーなどのソフトマテリアル、午後は金属や半導体などのハードマテリアルに焦点を絞って前処理方法の選択の仕方、利点、問題点など、具体例を交えて説明します。
カリキュラム
ソフトマテリアル ＜午前＞
はじめに
走査型電子顕微鏡分析のための前処理
- ミクロトーム法
- イオンミリング法
透過型電子顕微鏡分析のための前処理
- 分散法
- 凍結割断レプリカ法
- 超薄切片法
ハードマテリアル ＜午後＞
はじめに
走査型電子顕微鏡分析のための前処理
- 研磨法
- イオンミリング法
- FIB法
透過型電子顕微鏡分析のための前処理
- Arイオンミリング法
- FIB法
申し込み受付を終了しました。
日程を変更し開催いたします。