手法・前処理一覧

分析手法・前処理(日本語) 略語(一例) 分析手法・前処理(英語)
Arイオンエッチング AIE Ar Ion Etching
AFM-IR / ナノIR AFM-IR/nanoIR Atomic Force Microscope - Infrared Spectrometry / Nano - Infrared Spectrometry
pH測定 pH pH measurement
X線回折 XRD X‐ray diffraction
X線吸収端構造解析 XANES X-ray Absorption Near Edge Structure
X線吸収微細構造解析 XAFS X-ray Absorption Fine Structure
X線光電子分光法 XPS X-ray Photoelectron Spectroscopy
X線透視   Micro Focus X-ray Inspection System
X線反射率測定 GIXR Grazing Incidence X-ray Reflectivity
X線反射率分析 XRR X-ray Reflectivity Analysis
X線分析顕微鏡 XSAM X-ray Scanning Analytical Microscope
イオンクロマトグラフィー IC lon Chromatography
イオンクロマトグラフィー質量分析法 IC-MS Inductively Coupled Plasma - Mass Spectrometry
イオン選択性電極法 ISE lon Selective Electrode
イオン注入   Ion implantation
イオンミリング加工 IM lon Milling
異核間多結合相関分光法 HMBC Heteronuclear Multiple Bond Coherence
異核間多量子相関分光法 HMQC Heteronuclear Multiple Quantum Coherence
ウィークビーム法 Week-Beam Weak-Beam method
液体クロマトグラフィー核磁気共鳴法 LC/NMR Liquid Chromatography / NuclearMagnetic Resonance
液体クロマトグラフィー質量分析法 LC/MS Liquid Chromatography / MassSpectrometry
液体クロマトグラフィータンデム質量分析法 LC/MS/MS Liquid Chromatography / Tandem Mass Spectrometry
エネルギー分散蛍光X線分析 EDX Energy Dispersive X-ray Fluorescence
エレクトロスプレーイオン化 ESI Electrospray Ionization
オージェ電子分光 AES Auger Electron Spectroscopy
化学イオン化 CI Chemical Ionization
拡散反射フーリエ変換赤外分光 DRIFT Diffuse Reflectence Infrared Fourier Transform
核磁気共鳴 NMR Nuclear Magnetic Resonance
拡張X線吸収端微細構造解析 EXAFS Extended X-ray Absorption Fine Structure
核反応解析 NRA Nuclear Reaction Analysis
化審法高分子フロースキーム試験   Polymer Flow Scheme Tests
ガスクロマトグラフィー GC Gas Chromatography
ガスクロマトグラフィー炎光光度検出器 GC-FPD Gas Chromatography - Flame Photometric Detector
ガスクロマトグラフィー質量分析法 GC/MS Gas Chromatography / Mass Spectrometry
ガスクロマトグラフィー水素イオン化検出器 GC-FID Gas Chromatogfaphy - Flame Ionization Detector
ガスクロマトグラフィー熱伝導度検出器 GC-TCD Gas Chromatography - Thermal Conductivity Detector
ガス透過性   Gas permeability
カソードルミネッセンス CL Cathodoluminescence
加熱気化導入ICP質量分析法 ETV-ICP-MS Electrothermal Vaporization-lnductively Coupled Plasma-Mass Spectrometry
環境分析   Environmental analysis
キャピラリー電気泳動分析 CE Capillary Electrophoresis
吸着等温線   Adsorption isotherm
球面収差補正走査透過型電子顕微鏡 Cs-corrected STEM Spherical aberration corrected Scanning Transmission Electron Microscope
共焦点レーザー顕微鏡 CLSM Confocal Laser Scanning Microscope
共焦点レーザー走査型顕微鏡 LSM Confocal laser scanning microscopy
屈折率測定   Refractive index measurement
グロー放電質量分析法 GDMS Glow Discharge Mass Spectrometry
クロスセクションポリッシャー / ブロードイオンビーム法 CP / BIB Crosssection Polisher / Broad Ion Beam
蛍光X線分析 XRF X-ray Fluorescence
結晶方位解析 EBSD Electron Back Scatter Diffractionpatterns
ゲル浸透クロマトグラフィー GPC Gel Permeation Chromatography
ゲル浸透クロマトグラフィー粘度検出法 GPC-VISCO Gel Permeation Chromatography - Viscometry
ゲル浸透クロマトグラフィー光散乱検出法 GPC-LS Gel Permeation Chromatography - Laser Light Scattering
ゲル浸透クロマトグラフィー動的光散乱検出器 GPC-DLS Gel Permeation Chromatography - Dynamic Light Scattering
ゲル浸透クロマトグラフィー多角度光散乱検出器 GPC-MALS Gel Permeation Chromatography - Multi Angle Laser Light Scattering
ケルビンプローブフォース顕微鏡 KFM Kelvin probe Force Microscope
原子間力顕微鏡 AFM Atomic Force Microscope
原子吸光分析法 AAS Atomic Absorption Spectrometry
顕微フーリエ変換赤外分光(顕微FT-IR) micro FT-IR Micro Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR)
顕微ラマン micro Raman Micro Raman Spectroscopy
光学顕微鏡 OM Optical Microscope
高角度散乱暗視野法 HAADF High Angle Annular Dark Field
高速液体クロマトグラフィー HPLC High Performance Liquid Chromatography
高速原子衝撃質量分析法 FABMS Fast Atom Bombardment Mass Spectrometry
高分解能透過電子顕微鏡 HRTEM High Resolution Transmission Electron Microscope
高分解能分析電子顕微鏡 HRAEM High Resolution Analytial Electron Microscope
高分解能ラザフォード後方散乱分析法 HR-RBS High Resolution-Rutherford Backscattering Spectrometry
コンピューター断層撮影 CT Computed Tomography
細孔径分布 PSD Pore Size Distribution
材料試験   Material test
紫外可視分光 UV-VIS Ultraviolet-Visible Absorption Spectroscopy
紫外線光電子分光分析 UPS Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy
磁気力顕微鏡 MFM Magnetic Force Microscope
示差走査熱量測定 DSC Differential Scanning Calorimetry
質量分析法 MS Mass Spectrometry
集束イオンビーム加工走査電子顕微鏡 FIB-SEM Focused Ion Beam - Scanning Electron Microscopy
集束イオンビーム加工透過電子顕微鏡 FIB-TEM Focused Ion Beam - Transmission Electron Microscopy
集束イオンビーム加工 FIB Focused Ion Beam
昇温脱離-質量分析法 TPD-MS Temperature Programmed Desorption - Mass Spectrometry
昇温脱離ガス分析 TDS Thermal Desorption Spectroscopy
蒸気圧測定   Vapor pressure measurement
水素前方散乱分析法 HFS Hydrogen Forward Scattering Spectrometry
ゼータ電位測定   Zeta potential measurement
赤外分光 IR Infrared Spectroscopy
全反射蛍光X線分析 TXRF Total Reflection X-ray Fluorescence
全反射減衰分光法 ATR Attenuated Total Reflection
全有機炭素測定 TOC Total Organic Carbon
走査イオン顕微鏡像 SIM Scanning Ion Microscope
走査型キャパシタンス顕微鏡 SCM Scanning Capacitance Microscope
走査型透過電子顕微鏡 STEM Scanning Transmission Electron Microscope
走査型拡がり抵抗顕微鏡 SSRM Scanning Spreading Resistance Microscope
走査型プローブ顕微鏡 SPM Scanning Probe Microscope
走査電子顕微鏡 SEM Scanning Electron Microscope
大気圧化学イオン化 APCI Atmospheric Pressure ChemicalIonization
電界脱離質量分析法 FDMS Field Desorption Mass Spectrometry
電界放射型走査電子顕微鏡 FE-SEM Field Emission-Scaming Electron Microscope
電気力顕微鏡 EFM Electric Force Microscope
電子イオン化 EI Electron Ionization
電子エネルギー損失分光 EELS Electron Energy Loss Spectroscopy
電子スピン共鳴分析 ESR Electron Spin Resonance
電子線マイクロアナリシス EPMA Electron Probe Micro Analysis
電子線誘起電流 EBIC Electron Beam Induced Current
透過電子顕微鏡 TEM Transmission Electron Microscope
動的粘弾性法   Dynamic viscoelastic measurement
トンネリングAFM(原子間力顕微鏡) TUNA Tunneling atomic force microscope
ナノビーム回折 NBD Nano Beam Diffraction
ナノインデンテーション   Nano Indentation
二次イオン質量分析法 SIMS Secondary Ion Mass Spectrometry
二次元核磁気共鳴(DOSY) DOSY Diffusion Ordered Spectroscopy
二次元核磁気共鳴(DQF-COSY) DQF-COSY Double Quantum Filter Correlation Spectroscopy
二次元高速フーリエ変換解析 2-D FFT two-dimensional Fast Fourier Transform Analysis
熱拡散率・熱伝導率   Thermal diffusivity ・ Thermal conductivity
熱機械分析 TMA Thermo - mechanical Analysis
熱重量示差熱分析 TG-DTA Thermogravimetry - Differential Thermal Analysis
熱重量質量分析法 TG-MS Thermogravimetry - Mass Spectrometry
熱重量分析法 TG Thermogravimetry
熱伝導率(3ω法)   Thermal conductivity (3-omega Method)
熱伝導率(サーモリフレクタンス法)   Thermal conductivity (Thermoreflectance Method)
熱分析 TA Thermal Analysis
波長分散蛍光X線分析 WDX Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence
発生ガス分析 EGA Evolved Gas Analysis
バックサイドSIMS   Backside SIMS
バックサイドXPS   Backside XPS
反射吸収分光 RAS Refelection Absorption Spectroscopy
反射電子エネルギー損失分光 REELS Reflection Electron Energy Loss Spectroscopy
光音響分光 PAS Photoacoustic Spectroscopy
飛行時間型二次イオン質量分析法 TOF-SIMS Time of Flight - Secondary Ion Mass Spectrometry
微小域熱分析 nano-TA、μ-TA nano-ThermalAnalysis、micro-ThermalAnalysis
比表面積測定(COパルス法)   Specific surface measurement
比表面積測定(BET法) BET BET(Brunauer,Emmet and Teller)
表面・界面張力・接触角   surface tensiometry,interfacial tensiometry,contact angle measurement
表面電位顕微鏡 SPoM Surface Potential Microscope
拡がり抵抗測定 SRA Spreading Resistance Analysis
フーリエ変換赤外分光 FT-IR Fourier Transform Infrared Spectroscopy
フォトルミネッセンス PL Photoluminescence
深い順位の過度吸収測定法 DEPT Distortion-less Enhancementby Polarization Transfer
分析電子顕微鏡 AEM Analytical Electron Microscope
マトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析法 MALDI-MS Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization-Mass Spectrometry
マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析法 MALDI-TOFMS Matrix Assisted Laser Desorption / Ionization - Time of Flight Mass Spectrometry
密度測定   Density measurement
メスバウアー分光   Mössbauer spectroscopy / Moessbauer Spectroscopy
有機元素分析 EA Elemental Analysis
有機組成分析 CA Composition Analysis
誘導結合プラズマ原子発光分光法 ICP-AES lnductively Coupled Plasma - Atomic Emission Spectrometry
誘導結合プラズマ質量分析法 ICP-MS lnductively Coupled Plasma - Mass Spectrometry
陽電子消滅法 PALS Positron Annihilation Lifetime Spectroscopy
ラザフォード後方散乱分光法 RBS Rutherford Backscattering Spectrometry
ラマン分光 Raman Raman Spectroscopy
リートベルト法 Riedveld Method Riedveld Method
粒子数・粒径・粒径分布   Particle counter,Particle size,Particle size distribution
粒子励起X線分光 PIXE ParticleInduced X-ray Emission
レーザーアブレーション誘導結合プラズマ質量分析法 LA-ICP-MS Laser Ablation - lnductively Coupled Plasma - Mass Spectrometry