当社の異物分析

高精度で確実なデータ

　−業界最長の35年にわたる経験と技術蓄積により、高精度で確実なデータをお約束致します。

当社独自の前処理技術

　−熟練した技術者によるマイクロサンプリング技術によって、μｍレベルの微小物の組成分析も可能です。

幅広い分析メニュー

　−異物分析で最も良く用いられる顕微赤外分光法以外に、SEM-XMA、顕微ラマン分光法、TOF-SIMS

など様々な分析メニューをご用意しております。

異物・欠点・変色などのトラブルを解決するためには、その異物の組成をできるだけ明らかにすることが重要となります。 お客様からの納期等のご要望にお応えするように努力して参りますので宜しくお願いします。